DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

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2002-01-01 - Colloque/Abstract - Anglais - 1 page(s)

Schiesser W. E., Saucez Philippe , Vande Wouwer Alain , "High-order PDEs test problems" in SIAM 50th Anniversary and 2002 Annual Meeting, Philadelphia, USA, 2002

  • Codes CREF : Automatique (DI2530)
  • Unités de recherche UMONS : Automatique (F107), Mathématique et Recherche opérationnelle (F151)