DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

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2009-06-28 - Colloque/Article dans les actes avec comité de lecture - Anglais - 3 page(s)

Gokarna A., Dogheche E., Decoster D., Dumont Eric , Teng J., Liu W., Chua S.J., "Optical Characterization of Multilayered InxGa1-xN/GaN and GaN Structures grown by MOCVD on Sapphire Substrates" in ICMAT 2009 Conference, Singapore, 2009

  • Codes CREF : Physique appliquée des surfaces (DI2723), Optique (DI1250)
  • Unités de recherche UMONS : Thermodynamique, Physique mathématique (F506)
  • Instituts UMONS : Institut de Recherche en Science et Ingénierie des Matériaux (Matériaux)
Texte intégral :