2019-05-01 - Article/Dans un journal avec peer-review - Anglais -
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Parisi Alessio,
Van Hoey Olivier,
Mégret Patrice 
,
Vanhavere Filip,
"Microdosimetric modeling of the relative luminescence efficiency of LiF:Mg,Cu,P (MCP) detectors exposed to charged particles" in Radiation Protection Dosimetry, 183, 172-176
- Edition : Oxford University Press (United Kingdom)
- Codes CREF : Capteurs et périphériques (DI2563)
- Unités de recherche UMONS : Electromagnétisme et Télécommunications (F108)
- Instituts UMONS : Institut de Recherche en Science et Ingénierie des Matériaux (Matériaux)
- Centres UMONS : Ingénierie des matériaux (CRIM)
Texte intégral :