DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

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(titres de publication, de périodique et noms de colloque inclus)
2016-07-01 - Article/Dans un journal avec peer-review - Anglais - 8 page(s)

Guyot Corentin , Stock Mathieu , Hoenig Dirk, Thiesen Peter, Voué Michel , "Multivariate analysis for imaging ellipsometry data inversion" in Surface and Interface Analysis, (Soumis)

  • Edition : John Wiley & Sons, Hoboken (NJ)
  • Codes CREF : Matériaux optiques (DI1256), Physique des surfaces (DI1265)
  • Unités de recherche UMONS : Physique des matériaux et Optique (S878)
  • Instituts UMONS : Institut de Recherche en Science et Ingénierie des Matériaux (Matériaux)
  • Centres UMONS : Physique des matériaux (CRPM)