DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

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2016-10-19 - Article/Dans un journal avec peer-review - Anglais - 4 page(s)

Castagnola Juan Luis, Dualibe Fortunato , Garcia Vazquez Hugo, "Using Scattering Parameters and the gm/ID MOST Ratio for Characterisation and Design of RF Circuits" in IEEE International Midwest Symposium on Circuits and Systems

  • Codes CREF : Technol. des composantes électroniques [microélectronique] (DI2521), Semi-conducteurs (DI2512), Technologie des télécommunications [transmission] (DI2556), Circuits intégrés (DI2531), Electronique générale (DI2510), Hyperfréquences (DI2540)
  • Unités de recherche UMONS : Electronique et Microélectronique (F109)
  • Instituts UMONS : Institut NUMEDIART pour les Technologies des Arts Numériques (Numédiart), Institut de Recherche en Energétique (Energie)
Texte intégral :

Identifiants :
  • ISSN : 1548-3746