DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

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(titres de publication, de périodique et noms de colloque inclus)
2002-01-01 - Colloque/Article dans les actes avec comité de lecture - Anglais - page(s)

Unay Devrim, Gosselin Bernard , "Apple Defect Detection and Quality Classification with MLP-Neural Networks" in IEEE ProRisc2002, Eindhoven, Pays-Bas, 2002

  • Codes CREF : Techniques d'imagerie et traitement d'images (DI2770), Electricité courants faibles (DI2500)
  • Unités de recherche UMONS : Théorie des circuits et traitement du signal (F105)
Texte intégral :

Notes :
  • (Anglais) 6 p