DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

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2010-05-23 - Colloque/Présentation - poster - Anglais - 1 page(s)

Voué Michel , "Overoiling of industrial rough metallic substrates: a statistical analysis of spectroscopic ellipsometry data" in ICSE5 -- 5th International Conference on Spectroscopic Ellipsometry, Albany, USA, 2010

  • Codes CREF : Matériaux optiques (DI1256)
  • Unités de recherche UMONS : Physique des matériaux et Optique (S878)
  • Instituts UMONS : Institut de Recherche en Science et Ingénierie des Matériaux (Matériaux)
  • Centres UMONS : Physique des matériaux (CRPM)