DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

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2018-03-16 - Colloque/Article dans les actes avec comité de lecture - Anglais - 4 page(s)

Petrashin Pablo, Toledo Luis, Vázquez Carlos, Stander Tinus, Dualibe Fortunato , "Influence of Passive Oscillator Component Variation on OBT Sensitivity in OTAs" in 19th IEEE Latin American Test Symposium 2018, Sao Paulo, Brazil, 2018

  • Codes CREF : Technol. des composantes électroniques [microélectronique] (DI2521), Circuits intégrés (DI2531), Electronique générale (DI2510)
  • Unités de recherche UMONS : Electronique et Microélectronique (F109)
  • Instituts UMONS : Institut NUMEDIART pour les Technologies des Arts Numériques (Numédiart)
  • Centres UMONS : Centre de Recherche en Technologie de l’Information (CRTI)
Texte intégral :