DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

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2021-05-05 - Article/Dans un journal avec peer-review - Anglais - page(s)

Lontchi Jackson, Hajer Doghmen, Krumpmann Arnaud , Snyders Rony , Denis Flandre, "Depletion effects in moderately doped TiO2 layers from CV characteristics of MIS structures on Si" in Applied Physics Express, 14, 5, 10008, https://doi.org/10.35848/1882-0786/abfb61

  • Edition : Japan Soc of Applied Physics (Japan)
  • Codes CREF : Chimie des surfaces et des interfaces (DI1327)
  • Unités de recherche UMONS : Chimie des interactions plasma-surface (S882)
  • Instituts UMONS : Institut de Recherche en Science et Ingénierie des Matériaux (Matériaux)
  • Centres UMONS : Centre d’Innovation et de Recherche en Matériaux Polymères (CIRMAP)
Texte intégral :