2019-08-19 - Article/Dans un journal avec peer-review - Anglais -
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Hitchcock Adam P.,
Kruger Peter,
Bittencourt Carla 
,
Swerhone GDW,
Lawrence JR,
"Spatially Resolved Soft X-ray Spectroscopy in Scanning X-ray Microscopes" in Microscopy and Microanalysis, 25, 2, 254-255, 10.1017/S1431927619002009
- Edition : Cambridge University Press (United Kingdom)
- Codes CREF : Physico-chimie générale (DI1320), Physique des surfaces (DI1265), Physique des plasmas (DI1233), Spectroscopie [état condense] (DI1257)
- Unités de recherche UMONS : Chimie des interactions plasma-surface (S882)
- Instituts UMONS : Institut de Recherche en Science et Ingénierie des Matériaux (Matériaux)
- Centres UMONS : Centre d’Innovation et de Recherche en Matériaux Polymères (CIRMAP)
Texte intégral :