DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

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2019-03-14 - Colloque/Article dans les actes avec comité de lecture - Anglais - page(s)

Stander Tinus, Petrashin Pablo, Toledo Luis, Lancioni Walter, Vazquez C., Dualibe Fortunato , "Influence of Oscillator Topology on Fault Sensitivity in Oscillation Based Testing (OBT) of OTAs" in Argentine Conference on Electronics, CAE , Mar del Plata, Argentina, 2019

  • Codes CREF : Circuits intégrés (DI2531), Electricité (DI1230)
  • Unités de recherche UMONS : Electronique et Microélectronique (F109)
  • Instituts UMONS : Institut NUMEDIART pour les Technologies des Arts Numériques (Numédiart)
  • Centres UMONS : Centre de Recherche en Technologie de l’Information (CRTI)