2010-05-23 - Colloque/Présentation - communication orale - Anglais -
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Leclère Philippe 
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"Organic Semiconducting Self-Assembled Nanostructure Characterization : The Key Role of Scanning Probe Microscopies" in 9th International Symposium on Functional pi-Electron Systems (Fpi 9), Atlanta, US-GA, 2010
- Codes CREF : Physico-chimie générale (DI1320)
- Unités de recherche UMONS : Chimie des matériaux nouveaux (S817)
- Instituts UMONS : Institut de Recherche en Science et Ingénierie des Matériaux (Matériaux)
- Centres UMONS : Centre d’Innovation et de Recherche en Matériaux Polymères (CIRMAP)