DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

Recherche transversale
Rechercher
(titres de publication, de périodique et noms de colloque inclus)
2009-07-28 - Colloque/Présentation - communication orale - Anglais - 1 page(s)

Leclère Philippe , "Organic Semiconducting Self-Assembled Nanostructure Characterization : The Key Role of Scanning Probe Microscopies" in Seeing at the Nanoscale VII - Exploring the Future of Nanotechnology using SPM and Related Techniques, Santa Barbara, CA, USA, 2009

  • Codes CREF : Physico-chimie générale (DI1320)
  • Unités de recherche UMONS : Chimie des matériaux nouveaux (S817)
  • Instituts UMONS : Institut de Recherche en Science et Ingénierie des Matériaux (Matériaux)
  • Centres UMONS : Centre d’Innovation et de Recherche en Matériaux Polymères (CIRMAP)