DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

Recherche transversale
(titres de publication, de périodique et noms de colloque inclus)
2008-03-27 - Article/Dans un journal avec peer-review - Anglais - 11 page(s)

Theodoly Olivier, Gabriele Sylvain , Valignat Marie-Pierre, "Influence of Surface Reflective Properties on DIC Microscopy" in Optics Express, 16

  • Edition : Optical Society of America, Washington (DC)
  • Codes CREF : Physico-chimie générale (DI1320), Optique (DI1250)
  • Unités de recherche UMONS : Laboratoire Interfaces et Fluides complexes (S885)
  • Instituts UMONS : Institut de Recherche sur les Systèmes Complexes (Complexys), Institut des Biosciences (Biosciences)
  • Centres UMONS : Centre d’Innovation et de Recherche en Matériaux Polymères (CIRMAP)
Texte intégral :

Abstract(s) :

(Anglais) We present a model describing the image formation in DIC (Differential Interference Contrast) mode microscopy, by including the actual refractive indexes and reflection coefficients of objects and substrates. We calculate the contrast of flat and level objects of nanometric thickness versus the bias retardation G and the numerical aperture NA. We show that high contrasts, of the edge and of the inner object, can be achieved in DIC mode with special anti-reflective substrates and large NA values. The calculations agree with contrast measurements on nanometric steps of silica and explain also the extreme ability to detect single molecules (stretched DNA molecules).

Identifiants :
  • FNRS : S. G is Chargé de Recherche FNRS