DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

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2006-01-01 - Colloque/Article dans les actes avec comité de lecture - Anglais - page(s)

Unay Devrim, Gosselin Bernard , "Apple Defect Segmentation by Artificial Neural Networks" in BeNeLux Conference on Artificial Intelligence, Namur, Belgique, 2006

  • Codes CREF : Techniques d'imagerie et traitement d'images (DI2770)
  • Unités de recherche UMONS : Théorie des circuits et traitement du signal (F105)
Texte intégral :