DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

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(titres de publication, de périodique et noms de colloque inclus)
2003-01-01 - Article/Dans un journal avec peer-review - Anglais - 3 page(s)

Byrne D., Dogheche E., Dumont Eric , Laügt S., Massies J., Natali F., Semond F., Tottereau O., Vennéguès P., "Correlation between threading dislocation density and the refractive index of AIN grown by molecular beam epitaxy on Si (111)" in Applied Physics Letters, 82, 9, 1386-1388

  • Edition : American Institute of Physics, Melville (NY)
  • Codes CREF : Physique appliquée des surfaces (DI2723), Optique (DI1250)
  • Unités de recherche UMONS : Thermodynamique, Physique mathématique (F506)
  • Instituts UMONS : Institut de Recherche en Science et Ingénierie des Matériaux (Matériaux)
Texte intégral :