DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

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(titres de publication, de périodique et noms de colloque inclus)
2008-10-01 - Article/Dans un journal avec peer-review - Anglais - 8 page(s)

Derue G., Serban D.A., Leclère Philippe , Melinte S., Damman Pascal , Lazzaroni Roberto , "Controlled Nanorubbing of Polythiophene Thin Films for Field-Effect Transistors" in Organic Electronics, 9, 5, 821-828

  • Edition : Elsevier Science
  • Codes CREF : Chimie des surfaces et des interfaces (DI1327), Matériaux optiques (DI1256), Physique appliquée des surfaces (DI2723), Physique de l'état solide (DI1261), Optique (DI1250)
  • Unités de recherche UMONS : Chimie des matériaux nouveaux (S817), Laboratoire Interfaces et Fluides complexes (S885)
  • Instituts UMONS : Institut de Recherche en Science et Ingénierie des Matériaux (Matériaux)
Texte intégral :

Abstract(s) :

(Anglais) We present results obtained by applying the nanorubbing process to improve the electrical performance of regioregular poly(3-hexylthiophene-2,5-diyl) (P3HT) thin films. Essentially, we use a scanning atomic force microscope tip to induce a controlled deformation on the surface consisting of parallel grooves with a period imposed by the scanning parameters. The optical characterization of the rubbed zones highlights an orientation of P3HT chains along the scanning direction. When the nanorubbing process is orienting the polymer chains within the channel of a field-effect transistor, we observe that the charge carrier mobility increases (decreases) when the tip scans parallel (perpendicular) to the source–drain axis. This difference likely stems from the polymer chains orientation induced by the alignment process.

Notes :
  • (Anglais) Publié en ligne le 20 juin 2008
Identifiants :
  • DOI : 10.1016/j.orgel.2008.05.024