DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

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2007-02-02 - Article/Dans un journal avec peer-review - Anglais - 3 page(s)

Guisbiers Gregory , Van Overschelde Olivier , Wautelet Michel , Leclère Philippe , Lazzaroni Roberto , " Fractal dimension, growth mode and residual stress of metal thin films " in Journal of Physics : D Applied Physics, 40, 1077–1079

  • Edition : Institute of Physics
  • Codes CREF : Physique des surfaces (DI1265), Physique de l'état condense [struct., propr. thermiques, etc.] (DI1267)
Texte intégral :