DI-UMONS : Dépôt institutionnel de l’université de Mons

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2003-12-03 - Colloque/Présentation - communication orale - Français - 2 page(s)

Voué Michel , "Ellipsométrie spectroscopique pour l’analyse des films minces organiques en technologie du coating" in Société Française du Vide (SFV), Evry, France, 2003

  • Codes CREF : Matériaux optiques (DI1256), Optique (DI1250)